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Chip testen
Elektronische Komponenten werden nach ihrer Fertigung nach vielfältigen Kriterien geprüft und sortiert. Häufig gibt es speziell dafür geschaffene Testsysteme. Es gibt aber immer wieder spezielle Testfälle, bei denen eine flexible Lösung gefragt ist. Die Infotech Komponentenmatrix beinhaltet alle nötigen Module, die es für solche Testaufgaben benötigt.
In der Regel wird die eigentliche Testeinheit oder das Prüfnest von spezialisierten Firmen oder vom Kunden selbst zur Verfügung gestellt. Infotech kümmert sich um das zuverlässige Handling von der Zuführung der ungetesteten Bauteilen zum Prüfnest und um das Sortieren in das gewünschte Ausgabeformat. Die integrierte Bildverarbeitung unterstützt die Lokalisierung und Lageerkennung der Bauteile. Sie kann aber auch optische Teilinspektionen übernehmen. -
Powermodule testen
Flyer - KGD-Tester (EN)
Sample Video - Testen
Eine besondere Form von Tests ist bei der Produktion von Powermodulen zu finden. Für statische und dynamische Tests sowie für Teilentladungstests (partial discharge test) zur Überprüfung der Isolation werden spezielle Testgeräte und eine ebenso spezielle Testumgebung benötigt. Deren Generatoren erzeugen dabei hohe Spannungen und Stromstärken.
Die Prüflinge werden in ein Prüfnest umgesetzt, mit CO2 geflutet, dem Testsystem zugeführt und über eine Kontakteinheit mit dem Testsystem verbunden. Während des Prüfvorgangs kann das Handlingsystem ein zweites, fertig getestetes Modul wieder entladen und in das gewünschte Ausgabeformat umsetzen. -
Kleinteile prüfen
Das Sortieren von Kleinteilen geht häufig einher mit Prüf- und Testaufgaben. Dazu gehört das klassischen Die Sorting, bei dem die Chips anhand einer Wafermap Datei oder anderen Merkmalen nach so genannten Binklassen in unterschiedliche Ausgangsformate sortiert werden.
Aber auch optische und elektrische Prüf- und Sortieraufgaben werden häufig zur Erhöhung der Qualität in einer Fertigungslinie eingesetzt. Im Speziellen bei der Fertigung von Leistungsmodulen sind Partial Discharge Tests oder Known Good Device Tests für die hohen Qualitätsanforderungen unabdingbar.
In der Regel wird die Prüfeinheit von Drittanbietern geliefert und von Infotech in eine kompakte Sortieranlage integriert. Das flexible Handling der Prüflinge von der Zuführung über die Prüfung hin zur Sortierung in verschiedene Ausgangsformate ist unsere Stärke!
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Chip testen
Elektronische Komponenten werden nach ihrer Fertigung nach vielfältigen Kriterien geprüft und sortiert. Häufig gibt es speziell dafür geschaffene Testsysteme. Es gibt aber immer wieder spezielle Testfälle, bei denen eine flexible Lösung gefragt ist. Die Infotech Komponentenmatrix beinhaltet alle nötigen Module, die es für solche Testaufgaben benötigt.
In der Regel wird die eigentliche Testeinheit oder das Prüfnest von spezialisierten Firmen oder vom Kunden selbst zur Verfügung gestellt. Infotech kümmert sich um das zuverlässige Handling von der Zuführung der ungetesteten Bauteilen zum Prüfnest und um das Sortieren in das gewünschte Ausgabeformat. Die integrierte Bildverarbeitung unterstützt die Lokalisierung und Lageerkennung der Bauteile. Sie kann aber auch optische Teilinspektionen übernehmen. -
Powermodule testen
Flyer - KGD-Tester (EN)
Sample Video - Testen
Eine besondere Form von Tests ist bei der Produktion von Powermodulen zu finden. Für statische und dynamische Tests sowie für Teilentladungstests (partial discharge test) zur Überprüfung der Isolation werden spezielle Testgeräte und eine ebenso spezielle Testumgebung benötigt. Deren Generatoren erzeugen dabei hohe Spannungen und Stromstärken.
Die Prüflinge werden in ein Prüfnest umgesetzt, mit CO2 geflutet, dem Testsystem zugeführt und über eine Kontakteinheit mit dem Testsystem verbunden. Während des Prüfvorgangs kann das Handlingsystem ein zweites, fertig getestetes Modul wieder entladen und in das gewünschte Ausgabeformat umsetzen. -
Kleinteile prüfen
Das Sortieren von Kleinteilen geht häufig einher mit Prüf- und Testaufgaben. Dazu gehört das klassischen Die Sorting, bei dem die Chips anhand einer Wafermap Datei oder anderen Merkmalen nach so genannten Binklassen in unterschiedliche Ausgangsformate sortiert werden.
Aber auch optische und elektrische Prüf- und Sortieraufgaben werden häufig zur Erhöhung der Qualität in einer Fertigungslinie eingesetzt. Im Speziellen bei der Fertigung von Leistungsmodulen sind Partial Discharge Tests oder Known Good Device Tests für die hohen Qualitätsanforderungen unabdingbar.
In der Regel wird die Prüfeinheit von Drittanbietern geliefert und von Infotech in eine kompakte Sortieranlage integriert. Das flexible Handling der Prüflinge von der Zuführung über die Prüfung hin zur Sortierung in verschiedene Ausgangsformate ist unsere Stärke!
