Elektronische Komponenten werden nach ihrer Fertigung nach vielfältigen Kriterien geprüft und sortiert. Häufig gibt es speziell dafür geschaffene Testsysteme. Es gibt aber immer wieder spezielle Testfälle, bei denen eine flexible Lösung gefragt ist. Die Infotech Komponentenmatrix beinhaltet alle nötigen Module, die es für solche Testaufgaben benötigt.

In der Regel wird die eigentliche Testeinheit oder das Prüfnest von spezialisierten Firmen oder vom Kunden selbst zur Verfügung gestellt. Infotech kümmert sich um das zuverlässige Handling von der Zuführung der ungetesteten Bauteilen zum Prüfnest und um das Sortieren in das gewünschte Ausgabeformat. Die integrierte Bildverarbeitung unterstützt die Lokalisierung und Lageerkennung der Bauteile. Sie kann aber auch optische Teilinspektionen übernehmen.

Das Sortieren von Kleinteilen geht häufig einher mit Prüf- und Testaufgaben. Dazu gehört das klassischen Die Sorting, bei dem die Chips anhand einer Wafermap Datei oder anderen Merkmalen nach so genannten Binklassen in unterschiedliche Ausgangsformate sortiert werden.

Aber auch optische und elektrische Prüf- und Sortieraufgaben werden häufig zur Erhöhung der Qualität in einer Fertigungslinie eingesetzt. Im Speziellen bei der Fertigung von Leistungsmodulen sind Partial Discharge Tests oder Known Good Device Tests für die hohen Qualitätsanforderungen unabdingbar.

In der Regel wird die Prüfeinheit von Drittanbietern geliefert und von Infotech in eine kompakte Sortieranlage integriert. Das flexible Handling der Prüflinge von der Zuführung über die Prüfung hin zur Sortierung in verschiedene Ausgangsformate ist unsere Stärke!